Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, bulk, vortex dynamics, pinning, measurement technique, microwave devices, surface impedance, flux flow resistance, upper critical fields, flux creep
Ключевые слова: measurement technique, microwave devices, surface impedance
Ferdeghini C., Eisterer M., Vaglio R., Putti M., Bernini C., Calatroni S., Bellingeri E., Holleis S., Bernardi J., Leveratto A., Saba A., Himmerlich M., Henrist B., Fernandez-Pena S., Moros A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, PLD process, substrate SrTiO3, doping effect, nanoscaled effects, defects, surface impedance, vortex dynamics, pinning, defects columnar, experimental results
Galluzzi V., Mancini A., Rufoloni A., Vannozzi A., Celentano G., Rizzo F., Augieri A., Pompeo N., Silva E., Torokhtii K., Frolova A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, PLD process, substrate SrTiO3, fabrication, nanodoping, critical caracteristics, pinning, measurement technique, critical current density, microwave devices, Jc/B curves, pinning force, angular dependence, surface impedance, magnetic field dependence, nitrogen liquid , experimental results
Petrisor T., Ciontea L., Mancini A., Rufoloni A., Vannozzi A., Celentano G., Rizzo F., Augieri A., Pompeo N., Silva E., Armenio A.A., Sotgiu G., Torokhtii K., Pinto V., Frolova A.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.